GTEM小室是一種用于電磁兼容性(EMC)測試的設備，傳統的EMC測試方法通常采用開(kāi)放式測試環(huán)境，即在無(wú)限制的自由空間中進(jìn)行測試。但這樣做存在很多問(wèn)題，例如測試結果可能受到外部環(huán)境因素的影響，導致測試數據不準確等。因此，GTEM小室應運而生，它可以在一個(gè)封閉的空間內進(jìn)行測試，可以更加準確地模擬實(shí)際工作環(huán)境中的電磁場(chǎng)情況。
GTEM小室的結構非常特殊，其內部呈現出一個(gè)類(lèi)似于長(cháng)方體的形狀。頂部和底部各有一個(gè)開(kāi)口，可以讓測試設備通過(guò)，并連接到測試設備的電纜上。同時(shí)，GTEM小室的側壁也被打孔，以便安裝測試設備和探頭。它能夠提供一個(gè)廣泛的頻率范圍(DC-18GHz)的測試環(huán)境，因此可以測試各種類(lèi)型的電子設備，包括無(wú)線(xiàn)電、通信、雷達和衛星等。此外，它還可以測試各種類(lèi)型的輻射干擾和抗干擾性，例如導電噪聲、電磁波干擾等。
為了確保測試結果的準確性，GTEM小室必須經(jīng)過(guò)嚴格的校準和驗證。這通常需要使用一些標準參考源，例如開(kāi)路、短路和50歐姆負載等。在進(jìn)行實(shí)際測試之前，還需要對測試設備進(jìn)行預處理，例如去除干擾源和添加濾波器等。
GTEM小室全稱(chēng)為吉赫茲橫電磁波傳輸室，是電磁兼容領(lǐng)域新近發(fā)展起來(lái)用于寬帶測量評定被測設備電磁兼容性能的新技術(shù)。它繼承了非對稱(chēng)式TEM小室的損耗小、場(chǎng)強均勻、場(chǎng)強精確可調等優(yōu)點(diǎn)，吸取了無(wú)反射室可測頻率高的優(yōu)點(diǎn)，同時(shí)又彌補了TEM cell對頻率上限的限制及內部容積與可使用頻率上限成反比等不足之處，GTEM小室的頻率范圍可從直流至數GHz 以上，其內部容積與整體比值大，對被測物體大小的限制與頻率無(wú)關(guān)，使用時(shí)對外界環(huán)境無(wú)特殊要求。因此，GTEM小室很早就被歐洲標準認可作為電磁輻射敏感度(EMS)測試設備，并可作為電磁輻射干擾(EMI)的測試設備。由GTEM小室組成納電磁兼容性能測試系統較之在電波暗室、開(kāi)闊場(chǎng)地、屏蔽室中采用天線(xiàn)輻射，接收等測試方法可節省大量資金，免去對外界測試環(huán)境條件的要求，所需配置的儀器設備簡(jiǎn)單、效率高，并可數倍地提高測量速度，極易實(shí)現自動(dòng)化測量。
總之，GTEM小室是一種十分重要的EMC測試設備。它不僅可以更加準確地模擬實(shí)際工作環(huán)境中的電磁場(chǎng)情況，還可以提供廣泛的頻率范圍，以測試各種類(lèi)型的電子設備的輻射干擾和抗干擾性。雖然它需要經(jīng)過(guò)嚴格的校準和驗證，但它的優(yōu)點(diǎn)遠遠超過(guò)了這些努力。
GTEM小室參照標準
YD/T 1690.2-2007 《中華人民共和國通信行業(yè)標準》–電信設備內部電磁發(fā)射診斷技術(shù)要求和測量方法(150KHz~1GHz) 第2部分:輻射發(fā)射測量TEM小室和寬帶TEM小室方法
IEC 61967-2(2005-09)《集成電路-電磁騷擾的測試方法(150KHz~1GHz)第2部分：輻射騷擾測量——TEM小室和寬帶TEM小室法》
DINEN61000-4-20-2011 《電磁兼容性(EMC)-第4-20部分：試驗和測量方法.橫向電磁(TEM)波導的輻射和干擾試驗》
IEC 61000-4-20-2010 《TEM室測試方法》
GB/T 17626.20-2014 《電磁兼容、試驗和測量技術(shù)》橫電磁波(TEM)波導中的發(fā)射和抗擾度試驗
GJB151B-2013 《設備和分系統電磁發(fā)射和敏感度要求與測量》-RS105瞬態(tài)電磁場(chǎng)輻射敏感度
ISO 11452-3/SAE J1113-24 《道路車(chē)輛用窄帶發(fā)射的電磁能量進(jìn)行電子干擾部件試驗方法》-TEM小室法
IEEE 1309-2013 《頻率為9KHz~40GHz的電磁場(chǎng)傳感器和探頭(天線(xiàn)除外)的校準》
JJG 561-88 /JJG 562-88《中華人民共和國國家計量檢定規程》
主營(yíng)產(chǎn)品：
TEM小室，GTEM小室，測試儀器儀表，屏蔽室，電波暗室，電磁兼容
產(chǎn)品型號：
更新時(shí)間：2024-05-30
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